XS

XS -analyysivaa’at on suunniteltu tarkkaan ja luotettavaan analyysipunnitukseen.

Ominaisuudet

  • punnituskapasiteetit 61 g – 320 g
  • lukematarkkuus 0,01 mg ja 0,1 mg
  • tyypillinen minimipaino 16 mg – 82 mg (USP), 1,6 mg – 8,2 mg (GLP)
  • SmartGrid™, ritilämäinen punnitusalusta
  • FACT™, automaattinen viritys
  • hyvin suojattu mittakenno
  • kirkas ja selkeä näyttö
  • pikatoimintojen ohjelmointi näytölle
  • helposti irrotettavat ja pestävät tuulisuojan lasit
  • laaja lisälaitevalikoima (mm. USB, RS232, Bluetooth, PS/2, printteri, staattisuudenpoisto, Ergoclip, LabX-ohjelmisto)
  • Mittausturvatakuu 7 vuotta (ks. Huoltopalvelut)
Mettler Toledo -logo