Excellence XPE/XSE

XPE/XSE -analyysivaa’at on suunniteltu huolettomaan ja tarkkaan analyysipunnitukseen. Malliston ainutlaatuiset laadunvarmistus- ja turvallisuusominaisuudet takaavat virheettömän punnituksen sekä parhaan käyttökokemuksen.

Ominaisuudet

  • punnituskapasiteetit 120 g, 220 g, 320 g, 520 g
  • lukematarkkuudet 0,01 mg tai 0,1 mg
  • tyypilliset minimipainot 14 mg – 80 mg (USP), 1,4 mg – 8 mg (GLP)
  • SmartGrid™, ritilämäinen punnitusalusta
  • StatusLight™, tilailmaisin
  • FACT™/ProFACT™, automaattinen viritys
  • hyvin suojattu mittakenno
  • kirkas ja selkeä värinäyttö
  • pikatoimintojen ohjelmointi näytölle
  • moottoroidut ovet
  • helposti irrotettavat ja pestävät tuulisuojan lasit
  • LevelControl™, vesivaa’an tarkistus ja säätö kosketusnäytöltä
  • StaticDetect™, staattisuuden varoittaja (XPE)
  • mittakennoa jäähdyttävä Peltier-elementti (XPE)
  • laaja lisälaitevalikoima (mm. Bluetooth, RS232, Ethernet, USB, PS/2, integroitava staattisuuden poistaja, LabX-ohjelmisto)
  • Mittausturvatakuu 7 vuotta (ks. Huoltopalvelut)
Mettler Toledo -logo