Etusivulle
Etusivulle
Yhteydet
Yritystiedot
Yhteydenotto
Rekrytointi
Uutiset
Tuotteet
Huolto ja mittausturva
Koulutus
GWBnet-palvelu

 

Uutiset

 



 

The new benctop scanning electron microscope

 

 

JEOL NeoScope BENCHTOP SEM pyyhkäisyelektronimikroskopiaa (scanning electron microscopy) helposti ja nopeasti!

Haluatko tutkimukseesi uuden ulottuvuuden helposti ja nopeasti?
Tutustu uuteen pöytämalliseen JEOL NeoScope pyyhkäisyelektronimikroskooppiin – ja liity tutkimuksen edelläkävijöihin!


Jos osaat kuvata digitaalikameralla, osaat ottaa SEM kuvia muutaman minuutin harjoittelun jälkeen. Pyyhkäisyelektronimikroskopia tuo tutkimukseen ja tuotekehitykseen täysin uusia ulottuvuuksia. Nuo ulottuvuudet on nyt tuotu helposti lisättäväksi jokaiseen laboratorioon – jokaisen käyttöön!

Uusi pöytämalli, NeoScope SEM, edustaa elektronimikroskopian uusia tuulia. NeoScopen käyttöliittymä on heti tuttu ja selkeä käyttää, koska siitä on tehty normaalin digitaalikameran käyttöä vastaava. NeoScope on varustettu kahdella detektorilla, joten voit käyttää kuvantamiseen joko SE tai BSE–elektroneja. Vakuumivaihtoehtoja on kaksi, joten voit tutkia mitä tahansa näytettä ilman mitään esikäsittelyitä! Kuvantaminen tapahtuu reaaliajassa NeoScopen helpolla käyttöliittymällä - ja käytön opit alle puolessa tunnissa!

NeoScope esite (pdf): NeoScope Benchtop SEM

Tee hankintapäätös jo tänään ja ota uudet ulottuvuudet käyttöösi!

Soita meille numeroon 0201 255255 tai lähetä sähköpostia osoitteeseen gwb@gwb.fi niin kerromme lisää.


Takaisin uutisiin >

 

  Oy G.W. Berg & Co Ab - Mäkituvantie 7, 01510 Vantaa PL 199, 01511 Vantaa - Puh 0201 255 255